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XRD测定炭素材料的石墨化度 XRD 石墨化度多重峰分离内标 2010/12/29

研究了用X射线衍射(XRD)测定炭素材料石墨化度的原理和方法,指出其本质是精确测定炭石墨六方晶格的C轴点阵常数值,为此,用高纯硅粉作内标以校准测量误差.为提高测量精度,选用高角度的C(004)-Si(311)衍射线对;当试样的石墨化度较低时,因C(004)衍射线强度太小,选用C(002)-Si(331)线对.将它们分别进行Kα1,Kα2双线分离处理后,以Kα1峰的半高宽之中心点定峰位并据此计算石墨...